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    IR孔透過率測試儀

    產品簡介

    IR孔透過率測試儀是一套全波長的0度角透過率檢測儀,能快速準確地測量各類平面光學元件的透光率,可用于實時在線檢測,實現產品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。

    產品型號:DMS-2
    更新時間:2024-10-29
    廠商性質:生產廠家
    訪問量:3301
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    品牌其他品牌價格區間面議
    產地類別國產應用領域電子/電池,包裝/造紙/印刷,汽車及零部件,電氣,綜合
      簡介
     
      IR孔透過率測試儀是一套全波長的0度角透過率檢測儀,能快速準確地測量各類平面光學元件的透光率,可用于實時在線檢測,實現產品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。
     
      特點
     
      智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度,實時顯示測量樣品關注波長位置的透/反射率數據,自動調整顯示坐標范圍,高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。
     
      譜圖管理:IR孔透過率測試儀可同時記錄多達20個樣品譜圖,批量保存測量結果,記錄譜圖測試積分時間,能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作,盡可能地方便了譜圖的管理和分析。
     
      自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案,同時設置判定標準,使檢測更快速,結果更準確。
     
      譜圖數據處理功能:備有豐富的光學元件數據庫,可根據數據庫已存標準數據對比分析結果,用戶可自行對數據庫進行添加、修改和刪除,還可將測量數據導入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究。
     
      CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數,x,y,L,a,b,飽和度,主波長等。
     
      數據報告打印功能:可快速批量打印樣品測量數據及譜圖,自定義測量報告出具單位名稱。
     
      技術參數
     
      型號DMS(1型)DMS(2型)
     
      探測器Sony線形CCD陣列Hamamatsu背照式2D-CCD
     
      檢測范圍380-1000nm360-1100nm
     
      波長分辨率1nm1nm
     
      信噪比(全信號)250:11000:1
     
      相對檢測誤cha﹤0。5%(400-800nm)﹤0。2%(400-800nm)
     
      單次測量時間﹤1s
     
      樣品尺寸≥Φ1mm
     
      操作系統/接口WindowsXP,WindowsVista/USB2。0
     
      電源/功率220V-50HZ/6W
     

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