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    透過率測試儀

    產品簡介

    透過率測試
    VS-Micro透過率測試儀簡介:
    基于普通透過率測量儀的測試原理,增加顯微光路和成像CCD對測試區域進行準確定位,用小尺寸光斑(0.1mm)測試樣品微小區域的相/透射率。對比傳統目鏡對焦,其采用數字相機視頻對焦更準確,測試速度更快。可調光斑孔徑大小達到了以前沒有的小尺寸,更好的適應了市場上越來越精細的樣品測試。專門用于手機蓋板IR孔、菜單鍵、返回鍵等微小區域的透過率檢測。

    產品型號:OVS-Micro
    更新時間:2024-10-29
    廠商性質:生產廠家
    訪問量:2908
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    品牌其他品牌產地類別國產
    應用領域化工,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,綜合

    透過率測試儀優點:

    儀器精密小巧,攜帶方便。

    測試速度極快,一秒出結果,實現產品全檢。

    極小樣品的透過率檢測。

    優異的波長重復性達0.1納米。

    高精度的光度測定。

    小化雜散光。

    透過率測試儀軟件特點:

    智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度,實時顯示測量樣品關注波長位置的透/反射率數據,自動調整顯示坐標范圍,高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。

    譜圖管理:可同時記錄多達20個樣品譜圖,批量保存測量結果,記錄譜圖測試積分時間,能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作,很大程度地方便了譜圖的管理和分析。

    自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案,同時設置判定標準,使檢測更快速,結果更準確。

    譜圖數據處理功能:備有豐富的光學元件數據庫,可根據數據庫已存標準數據對比分析結果,用戶可自行對數據庫進行添加、修改和刪除,還可將測量數據導入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究。

    CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數, x,y,L,a,b,飽和度,主波長等。

    數據報告打印功能:可快速批量打印樣品測量數據及譜圖,自定義測量報告出具單位名稱。

    技術參數:

    型號

    OVS-Micro(I型)

    OVS-Micro(II型)

    測量系統

    單光束

    單光束

    探測器

    Sony線形CCD 陣列

    Hamamatsu背照式2D-CCD

    檢出限

    0.1%

    0.01%

    相對檢測誤cha

    ﹤0.6%(410-900nm)

    ﹤0.4%(410-100nm)

    檢測范圍

    380-1000nm

    360-1100nm

    波長重復率

    1nm

    1nm

    信噪比(全信號)

    250:1

    450:1

    樣品測試平臺

    X,Y軸可調

    光源

    鹵素鎢燈

    孔徑大小

    0.1mm/0.3mm/0.5mm/0.8mm/1.0mm可選

    樣品大小

    ≥ 0.5mm

    測量時間

    ﹤1s

    對焦方式

    數字相機視頻對焦

    物鏡

    5X

    電源供應器

    5V/6W,可調節亮度,燈泡壽命5000小時

    操作系統/接口

    Windows XP, Windows Vista/ USB2.0

    體積/重量

    30cm*29cm*35cm/8.5kg


     

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